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功能全面測(cè)試范圍廣，智能化程度高裝置可存儲(chǔ)2000組測(cè)試數(shù)據(jù)，掉電不丟失基于的低頻法測(cè)試原理，能應(yīng)對(duì)拐點(diǎn)高達(dá)45kV的CT測(cè)試
更新時(shí)間：2025-04-23
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